带SWP功能的NFC手机测试卡-可按要求写入参数云卡实业有限公司生产的NFC-SWP测试卡/手机NFC测试卡可按要求写入参数。 NFC测试卡/带SWP功能NFC手机测试卡介绍: NFC测试卡即带有NFC功能的手机测试白卡,涵盖4G测试卡/LTE,分为LTE-FDD测试卡、LTE-TDD测试卡手机测试卡(又称白卡),使用于通讯工业生产的信号测试(LTE(Long Term Evolution,长期演进)是由3GPP组织制定的UMTS技术标准的长期演进,于2004年12月3GPP多伦多TSG RAN#26会议上正式立项并启动。LTE测试白卡系统引入了OFDM和多天线MIMO等关键传输技术,显著增加了频谱效率和数据传输速率(峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s),并支持多种带宽分配:LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。FDD-LTE已成为当前世界上采用的国家及地区最广泛的,终端种类最丰富的一种4G标准。)。常用于LTE手机、4G手机、FDD手机、GSM手机、UIM手机、RUIM手机、CDMA2000手机、USIM手机,配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试;手机在生产中需要对成品进行相关信号测试,却要进行大规模屏敝,需动用更多的人力物力及测试时间,使生产工艺繁杂及成本增加,测试卡可以实现信号至仪器到手机的唯一路径,让测试环境更加简洁,很好的解决了这一繁锁问题。 NFC测试卡/带SWP功能NFC手机测试卡适用的测试仪器的品牌: 适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMW500、CMU55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及各手机厂或者营运商自建的网络等。 NFC测试卡/带SWP功能NFC手机测试卡品质保证: 深圳市云卡实业有限公司,主营NFC测试卡、LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、SWP-NFC手机测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片,3V/5V兼容5-6触点兼容设计,适合一切手机.、配以专用COS系统,全面遵从4G手机、3G对手机、2G手机等,我司的测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬,保证卡片可以承受10牛顿/每平方米的压力。(GSM标准为4牛顿/每平方米)适合工业化生产线使用,采用超长寿命EEPROM,保证读写次数在10万次以上。(3G标准只要求3万次,按一般生产线测量要求,每部手机的读写次数为10次,可测一万部手机。),专利芯片保护层,保证卡片安全,防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层,抗静电(ESD),防水(48小时浸泡试验)特殊卡体材料(ABS混合高温PVC),耐高温,45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验. 声明:此篇为深圳市云卡实业有限公司原创文章,转载请标明出处链接:http://szycard.com/nd.jsp?id=31
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